CCD hibás oszlopok (Defect Column) eltávolítása: DefectMap és CosmeticCorrection

A CCD-érzékelőknél gyakran előfordul a hibás oszlop (defect column) problémája, amely csíkos hibákat hagy a képen. Ez a cikk a PixInsightban a hibás oszlopok eltávolításának két fő módszerét mutatja be, a kezemben lévő „Latte” CCD gyakorlati példáján keresztül.

Két módszer: DefectMap és CosmeticCorrection

A PI-ben a CCD hibás oszlopainak eltávolítására elsősorban két módszer van: az egyik a DefectMap (DM) használata, a másik a CosmeticCorrection (CC) használata. Mindkettőnek megvan a maga előnye:

• A CC előnye: beépíthető a WBPP-be, így a kalibrációs folyamat egyben, megszakítás nélkül végigfut.
• A DM előnye: eltérő pixelösszevonású (binning) képeknél a hibás oszlopok térképe egy resample művelettel gyakran közösen is használható.

A „Latte” képeit tekintve a Bin1 hibás oszlopai láthatóan eltérnek a Bin2-étől. Mivel egyúttal be akartam építeni a WBPP-be, itt a CC módszerét választottam (ahol a Bin1 L-, Ha-, OIII- és SII-csatornái közösen ugyanazt a CC-t használhatják).

Két alkalmazási mód

Az első mód: közvetlenül a CC felületét használjuk, és betöltjük a megfelelő csatorna képét. Figyeljünk arra, hogy ennek a képnek már kalibrált képnek kell lennie (a dark levonása és a flattel való osztás után).

A második mód: a WBPP felületét használjuk, a Calibration oldalon kiválasztjuk a kép csatornáját, majd a tőle jobbra lévő Cosmetic Correction mezőben kiválasztjuk a megfelelő csatorna CC Template elemét (az asztali ikont).

Hogyan töltsük be a letöltött CC Icon fájlt a PI-be

Miután letöltöttünk egy másik felhasználó által megosztott CC Icon fájlt, hogyan tölthetjük be a PI-be? Kattintsunk jobb gombbal a PI munkaterületén → Process Icon → Merge process Icon, és ezek a CC Icon fájlok megjelennek a PI első munkaterületének hátterében; ezt követően a fent leírt módon alkalmazhatjuk őket.