CCD 坏线（Defect Column）的去除：DefectMap 与 CosmeticCorrection

CCD 感光元件常有坏线（defect column）的问题，会在图像上留下一条条的瑕疵。这篇文章分享在 PixInsight 中去除坏线的两种主要方法，以我手上这台“拿铁 CCD”的实操为例。

两种方法：DefectMap 与 CosmeticCorrection

PI 中去除 CCD 坏线的方法主要有两种：一种是使用 DefectMap（DM），另一种是使用 CosmeticCorrection（CC）。两者各有好处：

• CC 的好处：能够集成进 WBPP 中，让校正流程一气呵成。
• DM 的好处：对于不同像素合并（binning）的图像，只要通过 resample，其坏线地图常常能够共用。

以拿铁的图像来说，Bin1 的坏线明显与 Bin2 不相同。同时为了能集成进 WBPP，我这边采用了 CC 的作法（其中 Bin1 的 L、Ha、OIII、SII 共用同一个 CC 即可）。

两种套用方式

第一种：直接使用 CC 的界面，加载对应通道的图像。注意这个图像必须是做过校正的图像（扣暗、除平之后的）。

第二种：使用 WBPP 界面，在 Calibration 页面选择图像通道，然后在其右边的 Cosmetic Correction 字段，选择对应通道的 CC Template（桌面 icon）。

如何把下载的 CC Icon 导入 PI

下载别人分享的 CC Icon 之后，要怎么导入 PI 呢？请在 PI 工作区按右键 → Process Icon → Merge process Icon，这些 CC Icon 就会出现在 PI 第一工作区的背景上，接着就能依上述方式套用。