CCD 결함 열(Defect Column) 제거: DefectMap과 CosmeticCorrection

CCD 촬상 소자에는 결함 열(defect column) 문제가 흔히 있어, 이미지에 줄줄이 흠집을 남깁니다. 이 글에서는 PixInsight에서 결함 열을 제거하는 두 가지 주요 방법을, 제 손에 있는 이 ’라테 CCD’로 실제로 해 본 것을 예로 들어 소개합니다.

라테 CCD 이미지의 결함 열, 그리고 제거 전후의 대조

두 가지 방법: DefectMap과 CosmeticCorrection

PI에서 CCD 결함 열을 제거하는 방법은 주로 두 가지입니다. 하나는 DefectMap(DM)을 사용하는 것이고, 다른 하나는 CosmeticCorrection(CC)을 사용하는 것입니다. 두 방법에는 각각 장점이 있습니다.

CC의 장점: WBPP에 통합할 수 있어, 캘리브레이션 흐름을 한 번에 이어서 진행할 수 있습니다.
DM의 장점: 서로 다른 픽셀 병합(binning)의 이미지에 대해서도, resample만 거치면 그 결함 열 맵을 흔히 공용할 수 있습니다.

라테의 이미지로 말하자면, Bin1의 결함 열은 Bin2와 명백히 다릅니다. 동시에 WBPP에 통합할 수 있도록, 여기서는 CC 방식을 채택했습니다(그중 Bin1의 L, Ha, OIII, SII는 같은 CC를 공용하면 됩니다).

서로 다른 채널/서로 다른 binning의 결함 열 CC 대조

두 가지 적용 방식

첫 번째: CC의 인터페이스를 직접 사용해, 해당 채널의 이미지를 불러옵니다. 이 이미지는 반드시 캘리브레이션을 거친 이미지(다크 감산·플랫 나눗셈을 마친 것)여야 한다는 점에 유의하십시오.

두 번째: WBPP 인터페이스를 사용해, Calibration 페이지에서 이미지 채널을 선택한 다음, 그 오른쪽의 Cosmetic Correction 칸에서 해당 채널의 CC Template(바탕화면 icon)을 선택합니다.

WBPP Calibration 페이지에서 해당 채널의 CC Template를 지정하는 모습

다운로드한 CC Icon을 PI에 불러오는 방법

다른 사람이 공유해 준 CC Icon을 다운로드한 뒤, 어떻게 PI에 불러올까요? PI 작업 영역에서 마우스 오른쪽 버튼을 클릭 → Process Icon → Merge process Icon을 선택하면, 이 CC Icon들이 PI의 첫 번째 작업 영역 배경에 나타납니다. 그다음에는 위에서 설명한 방식대로 적용할 수 있습니다.