CCD 壞線（Defect Column）的去除：DefectMap 與 CosmeticCorrection

CCD 感光元件常有壞線（defect column）的問題，會在影像上留下一條條的瑕疵。這篇文章分享在 PixInsight 中去除壞線的兩種主要方法，以我手上這台「拿鐵 CCD」的實作為例。

兩種方法：DefectMap 與 CosmeticCorrection

PI 中去除 CCD 壞線的方法主要有兩種：一種是使用 DefectMap（DM），另一種是使用 CosmeticCorrection（CC）。兩者各有好處：

• CC 的好處：能夠整合進 WBPP 中，讓校正流程一氣呵成。
• DM 的好處：對於不同像素合併（binning）的影像，只要透過 resample，其壞線地圖常常能夠共用。

以拿鐵的影像來說，Bin1 的壞線明顯與 Bin2 不相同。同時為了能整合進 WBPP，我這邊採用了 CC 的作法（其中 Bin1 的 L、Ha、OIII、SII 共用同一個 CC 即可）。

兩種套用方式

第一種：直接使用 CC 的介面，載入對應通道的影像。注意這個影像必須是做過校正的影像（扣暗、除平之後的）。

第二種：使用 WBPP 介面，在 Calibration 頁面選擇影像通道，然後在其右邊的 Cosmetic Correction 欄位，選擇對應通道的 CC Template（桌面 icon）。

如何把下載的 CC Icon 載入 PI

下載別人分享的 CC Icon 之後，要怎麼載入 PI 呢？請在 PI 工作區按右鍵 → Process Icon → Merge process Icon，這些 CC Icon 就會出現在 PI 第一工作區的背景上，接著就能依上述方式套用。