การกำจัดคอลัมน์เสีย (Defect Column) ของ CCD: DefectMap และ CosmeticCorrection

เซนเซอร์ CCD มักมีปัญหาคอลัมน์เสีย (Defect Column) ซึ่งทิ้งร่องรอยตำหนิเป็นเส้น ๆ ไว้บนภาพ บทความนี้แชร์สองวิธีหลักในการกำจัดคอลัมน์เสียใน PixInsight โดยใช้กล้อง CCD “Latte” ที่มีอยู่ในมือเป็นตัวอย่างการลงมือทำจริง

คอลัมน์เสียในภาพของกล้อง CCD “Latte” และภาพเปรียบเทียบก่อนและหลังการกำจัด

สองวิธี: DefectMap และ CosmeticCorrection

ใน PI มีวิธีกำจัดคอลัมน์เสียของ CCD หลัก ๆ สองวิธี: วิธีหนึ่งคือใช้ DefectMap (DM) อีกวิธีหนึ่งคือใช้ CosmeticCorrection (CC) ทั้งสองวิธีต่างมีข้อดีของตัวเอง:

ข้อดีของ CC: สามารถผนวกเข้ากับ WBPP ได้ ทำให้ขั้นตอน Calibration ดำเนินไปในคราวเดียวอย่างต่อเนื่อง
ข้อดีของ DM: สำหรับภาพที่ใช้การรวมพิกเซล (binning) ต่างกัน เพียงทำ resample แผนที่คอลัมน์เสียก็มักใช้ร่วมกันได้

สำหรับภาพของ Latte คอลัมน์เสียของ Bin1 ต่างจาก Bin2 อย่างชัดเจน ในขณะเดียวกัน เพื่อให้ผนวกเข้ากับ WBPP ได้ จึงเลือกใช้วิธี CC ในที่นี้ (โดยแชนแนล L Ha OIII และ SII ของ Bin1 ใช้ CC เดียวกันร่วมกันได้)

ภาพเปรียบเทียบ CC ของคอลัมน์เสียสำหรับแชนแนลต่างกันและ binning ต่างกัน

สองวิธีในการนำไปใช้

วิธีที่หนึ่ง: ใช้อินเทอร์เฟซของ CC โดยตรง แล้วโหลดภาพของแชนแนลที่ตรงกัน ให้สังเกตว่าภาพนี้ต้องเป็นภาพที่ผ่านการ Calibration แล้ว (หลังลบด้วย Dark และหารด้วย Flat)

วิธีที่สอง: ใช้อินเทอร์เฟซของ WBPP เลือกแชนแนลของภาพในหน้า Calibration จากนั้นในช่อง Cosmetic Correction ทางด้านขวา ให้เลือก CC Template (icon บนเดสก์ท็อป) ของแชนแนลที่ตรงกัน

ภาพประกอบการกำหนด CC Template ของแชนแนลที่ตรงกันในหน้า Calibration ของ WBPP

วิธีโหลด CC Icon ที่ดาวน์โหลดมาเข้า PI

หลังจากดาวน์โหลด CC Icon ที่คนอื่นแชร์มาแล้ว จะโหลดเข้า PI ได้อย่างไร? ให้คลิกขวาในพื้นที่ทำงานของ PI → Process Icon → Merge process Icon แล้ว CC Icon เหล่านี้จะปรากฏบนพื้นหลังของพื้นที่ทำงานแรกใน PI จากนั้นก็สามารถนำไปใช้ตามวิธีข้างต้นได้