CCD の欠陥列（Defect Column）の除去：DefectMap と CosmeticCorrection

CCD の撮像素子には欠陥列（defect column）の問題がつきもので、画像に何本もの筋状の傷を残します。この記事では、PixInsight で欠陥列を除去する二つの主要な方法を、私の手元にあるこの「ラテ CCD」での実践を例にして紹介します。

二つの方法：DefectMap と CosmeticCorrection

PI で CCD の欠陥列を除去する方法は主に二つあります。一つは DefectMap（DM）を使う方法、もう一つは CosmeticCorrection（CC）を使う方法です。それぞれに利点があります。

• CC の利点：WBPP に組み込むことができ、キャリブレーションの流れをひと続きに進められます。
• DM の利点：異なるピクセルビニング（binning）の画像に対しても、resample を通せば欠陥列のマップをそのまま共用できることが多いです。

ラテの画像で言えば、Bin1 の欠陥列は Bin2 とは明らかに異なります。同時に WBPP へ組み込めるようにするため、ここでは CC のやり方を採用しました（このうち Bin1 の L、Ha、OIII、SII は同じ CC を共用すれば十分です）。

二つの適用方法

一つ目：CC のインターフェイスを直接使い、対応するチャンネルの画像を読み込みます。この画像は必ずキャリブレーション済みの画像（ダーク減算・フラット除算を終えたもの）でなければならない点に注意してください。

二つ目：WBPP のインターフェイスを使い、Calibration ページで画像のチャンネルを選び、その右側の Cosmetic Correction の欄で、対応するチャンネルの CC Template（デスクトップの icon）を選択します。

ダウンロードした CC Icon を PI に読み込む方法

他の人が共有してくれた CC Icon をダウンロードしたあと、どうやって PI に読み込むのでしょうか。PI のワークスペースで右クリック → Process Icon → Merge process Icon を選ぶと、これらの CC Icon が PI の第一ワークスペースの背景上に現れます。あとは前述のやり方で適用できます。